膜厚儀，又叫膜厚計(jì)、膜厚測(cè)試儀，分為電渦流鍍層測(cè)厚儀、磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀、熒光X射線儀鍍層測(cè)厚儀。采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。 特點(diǎn)：
1、能夠測(cè)量無鉛焊錫；
2、搭載中心搜索軟件；
3、擁有防沖功能；
4、搭載激光對(duì)焦系統(tǒng)；
5、搭載測(cè)試報(bào)告自動(dòng)生成軟件；
6、擁有自動(dòng)測(cè)量軟件以及中心搜索軟件；
7、配備了薄膜FP法，可以同時(shí)測(cè)量Sn-Ag，Sn-Bi，Sn-Cu等，無鉛焊錫的鍍層后與成份；
8、通過掃描樣品可以自動(dòng)檢測(cè)出線及基板點(diǎn)面部分的測(cè)量中心位置。
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